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  • TG-FTIR 

TA Q600

TGA

用於同步測定各式固態與液態樣品之熱重與熱釋放率。溫度範圍為室溫至1500oC。備有多種吹掃氣體(purge gas)可選擇。可串接傅立葉紅外線吸收光譜儀(FTIR)。

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Bruker Tensor 27

FTIR

配備液氮冷卻MCT偵測器與加熱氣腔,可精確獨立或串接熱重分析儀測定氣體濃度。

 

 

 

·         SEM/EDS

Phenom ProX

SEM

可觀察樣品表面之微觀結構,最高放大倍率100,000X。此儀器使用背散射電子偵測器,並配有電荷抑制載台,非導體不需鍍金亦可獲得影像。本SEM也具有EDS功能,可對固體樣品進行表面成份分析。

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·          Particle Size/Zeta Potential Analyzer

Brookhaven ZetaPALS

Zeta

可用於量測粉體懸浮液、高分子聚合物、膠體之表面電位與粒徑。粒徑量測範圍為1 nm – 6 um,介面電位量測範圍為-220 mV – 220 mV。

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·         GC

Agilent 7890A

GC

 

具備FID 及TCD偵測器。配置針筒注射孔與電子氣動閥兩種注入孔,可量化分析C6以下之碳氫化合物與各種Permanent gases。

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·         High-Speed Reacting Flow Visualization

MIRO-LAB310

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以上儀器皆提供檢測服務,詳細業務歡迎來信或來電洽詢,謝謝! 

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